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《电子产品可靠性与环境试验》是一份由信息产业部主管、信息产业部电子第五研究所主办、中国电子学会可靠性分会协办的可靠性研究专业刊物,1962年创刊,国内外公开发行。本刊是行业中最有权威性的可靠性学术、技术类科技期刊,发行分布面广,覆盖了电子、航空、航天、造船、兵器、铁路、教育等多个行业与部门,为提高我国军工电子产品可靠性作出了重大的贡献;同时,随着可靠性技术在民用生产中起着越来越重要的作用,本刊也成为越来越多企业和技术人员的良师益友。
主要栏目:研究与评价、计算机系统与软件可靠性、可靠性与环境试验、国外可靠性与环境技术、可靠性文摘、其它、可靠性设计与工艺控制、电磁兼容设计与检测
主管单位:中华人民共和国工业和信息化部
主办单位:工业和信息化部电子第五研究所(中国电子产品可靠性与环境试验研究所) (中国赛宝实验室)
ISSN:1672-5468
CN:44-1412/TN
文章发表目录:
组件级电子产品ESS试验条件剪裁方法研究 贝广常,李楼德,黄泽贵,BEI Guang-chang,LI Lou-de,HUANG Ze-gui
电子产品两种振动方式的筛选转方法探讨 胡巨刚,宋巍,李劲,HU Ju-gang,SONG Wei,LI Jing
电子产品环境应力筛选方法及其应用研究 朱永,ZHU Yong
实施装备环境工程的探讨 裴嵩,PEI Song
铜丝键合塑封器件开封方法的改进研究 何胜宗,武慧薇,王有亮,HE Sheng-zong,WU Hui-wei,WANG You-liang
应力诱发的电迁移失效分析 陈选龙,石高明,蔡伟,邝贤军,CHEN Xuan-long,SHI Gao-ming,CAI Wei,KUANG Xian-jun
LTCC工艺评价试验方法 董作典,文平,杨钊,华熙,DONG Zuodian,WEN Ping,YANG Zhao,HUA Xi
直接数字式频率合成器辐射效应敏感性分析 卢向军,王晓晗,罗宏伟,王小强,费武雄,孙宇,吕宏峰,刘焱
论项目质量管理与组织构架改进 梁剑东,屈杰,黄泽贵,LIANG Jian-dong,QU Jie,HUANG Ze-gui
加强设计审核的方法探索 余瑾,YU Jin
欠采样技术在全数字再平衡回路中的应用 刘国强,LIU Guo-qiang
基于ATE的卫星导航射频芯片测试技术 王小强,罗宏伟,WANG Xiao-qiang,LUO Hong-wei
嵌入式训练教学保障技术及其应用 余学敏,宋巍,黎新,YU Xue-min,SONG Wei,LI Xin
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